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玉米秆表面的研究分析

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编号 zgly0001330547

文献类型 期刊论文

文献题名 玉米秆表面的研究分析

作者 陈桂华  姚斌  向仕龙  刘碧华 

作者单位 中南林业科技大学  湖南省质量技术监督局  中南林业科技大学 长沙 410004教授  长沙 410007  长沙 410004 

母体文献 林产工业 

年卷期 2007年06期

年份 2007 

分类号 S513 

关键词 玉米秆  表面分析  扫描电镜—X射线能谱分析 

文摘内容 借助扫描电子显微镜和X射线能谱仪(SEM-EDAX)对玉米秆表面进行分析,结果表明:玉米秆表面较为平滑、致密,除H外,主要由C、O、Si三种元素组成,含Si量高达30%,其表面零星分布的块状物和棒状物则有较高的S和K含量。

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